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14nm光刻机是怎么做出7nm和5nm芯片的? 第1页

  

user avatar   MebiuW 网友的相关建议: 
      

其实并没有14nm光刻机,现在分DUV和EUV,发一个删减版的简单说一下吧,完整版看我水印可以知道在哪里。

稍微关注一点这块的人,大概都知道现在的光刻机大体上分为DUV和EUV。DUV是目前比较成熟的方案,现阶段最高采用193nm波长的深紫外光源,被广泛应用在7nm(N7)以及7nm以前的工艺里。伴随着工艺的继续微缩,DUV已经力不从心,所以现在无论是台积电还是三星都引入了极紫外光源的EUV光刻工艺。EUV的波长是13.5nm,相比于193nmDUV提升了不止10倍,为未来很长一段时间的工艺微缩扫清了障碍。

首先我们简单科普一下光刻分辨率和工艺节点的关系,为什么193mm的深紫外光刻机可以制造7nm工艺的芯片


具体的原因大体上有如下几点:

1、半导体工艺的X-nm工艺并不真的对应晶体管就那么小,通常这只是一个“代际”的命名,用来表示一个相对的代数而已,22nm的最小特征尺寸并不是22nm。甚至因为前两年三星这个搅屎棍的出现,现在连这个X-nm的名称都不能准确衡量各家工艺的代际了,三星的5nm和台积电的7nm以及Intel的10nm是一代,这种事也就三星最爱干。总体来说,最小特征尺寸的Y-nm远大于命名里的X-nm。

2、光刻机实际上也是一个复杂的光学系统,光源的分辨率和最后输出光线的分辨率并不是完全一致的。

3、在光刻机以外,我们有很多& 可以增强、提升实际分辨率的手段,主要是多重曝光。

光刻分辨率

对于一个光刻机,其实际的分辨率计算工艺大体是:

其中CD就是最小特征尺寸,也就是半周期Half-Pitch的尺寸,K1是一个常数,在不同的光刻方案中不太一致,NA上方那个λ就是输入光源的波长了,而最下方的NA是光刻机光学系统的数值孔径。


对于常数K1,目前ASML的DUV光刻机最高K1是做到了0.25附近(具体看参考资料1或3或上图),而EUV大概还是在0.35附近。

对于波长λ来说,现行的技术无非就DUV的193nm,以及EUV的13.5nm两个。显然,输入光源的波长越小,实际可以光刻的工艺也就越小。

对于数值孔径NA来说,对于非浸润式DUV方案这个数值的上限一般是1.0,浸润式DUV方案则是1.35附近。相比于非浸润式,浸式光刻机在光刻时额外使用了液体来进行折射,一般所使用的都是纯水,折射率约为1.33,这也是为什么浸润式的NA要大一些的关系。而在EUV这块,目前最高也就0.33NA。

有了以上的数据,我们来计算一下目前DUV光刻机和EUV机的大体分辨率吧:

DUV=0.25*193/1.35=36nm

EUV=0.33*13.5/0.35=12.7nm

以上各项数值可能有略微偏差,并且要考虑一些容许的误差范围,实际上的分辨率不会那么高。就实际来说,ASML最新的DUV的分辨率是38~40nm,而EUV则是13nm。

上述极限分辨率乘以2,对应到半导体7nm 5nm的MMP(或者反过来)就可以知道一个光刻机能做什么工艺的了。

可以看到其实7nm最难的MMP(finfet那里比较容易)是40nm,DUV最高36*2=72是无法满足的,此时就要用到刚刚说的多重曝光了,理论上没翻倍一次,分辨率增加一倍,所以双重的SADP就可以做7nm了,理论上四重SAQP也可以5nm。LE套娃理论上也是套几次提升多少,但因为误差大,实际做不到那么高,看下图对应就好。

这个图已经换算了直接对应上表就可以,不能对应再上面的ASML的分辨率。

因为删减的关系说的可能比较乱,可以关注等一下全文在知乎公开,或者去同名微博看。




  

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